La espectroscopía de absorción en los bordes XANES (Espectroscopía de Absorción de Rayos X Cerca del Borde) y EXAFS (Espectroscopía de Absorción Extendida de Rayos X del Borde) constituye una técnica fundamental en el campo de la química y la ciencia de materiales para el análisis estructural y electrónico de materiales a nivel atómico. Esta metodología permite obtener información detallada sobre el entorno local de un átomo específico dentro de una muestra, proporcionando detalles sobre la estructura química, estado de oxidación, coordinación y distancias interatómicas. Dado que los rayos X tienen una capacidad única para interactuar con la materia a nivel atómico, la spectroscopía XAS (Absorción de Rayos X) es una herramienta esencial para el estudio de sistemas complejos tanto en estado sólido como en estado líquido o gaseoso.
La base física subyacente a la espectroscopía de absorción en los bordes X se encuentra en el proceso mediante el cual un fotón de rayos X incide sobre un átomo y provoca la excitación de un electrón desde un nivel energético core (núcleo) hacia estados no ocupados o al continuum. El borde de absorción corresponde a la energía mínima necesaria para liberar un electrón de un orbital profundo (por ejemplo, un electrón 1s en el caso del borde K). La región denominada XANES abarca desde el umbral de absorción hacia energías superiores en un rango aproximadamente entre 5 y 50 eV, donde se observan características relacionadas con las resonancias múltiples, estados finales electrónicos y efectos de orden de corto alcance. Por otro lado, en la región EXAFS, que se extiende aproximadamente desde 50 eV hasta 1000 eV por encima del borde, la absorción exhibe oscilaciones finas debidas a la interferencia de electrones fotoemitidos con los átomos vecinos, lo que permite extraer información estructural detallada.
El análisis XANES es particularmente sensible a la valencia del elemento estudiado y a su simetría local. Fenómenos como cambios en el estado de oxidación o en la configuración electrónica se reflejan en el desplazamiento e intensidad de las características espectrales de esta región. Por ello, es útil para identificar especies químicas y para estudiar procesos de catálisis, reacciones de oxidación-reducción y cambios de coordinación. La región EXAFS, por su parte, puede emplearse para determinar parámetros estructurales tales como distancias interatómicas, número de coordinación y tipo de átomos vecinos, mediante el análisis de las oscilaciones periódicas presentes en los espectros, las cuales pueden ser interpretadas usando modelos teóricos y funciones matemáticas que describen la dispersión del electrón fotoemitido.
Uno de los principales usos de las espectroscopías XANES y EXAFS reside en el estudio de materiales catalíticos, donde es crucial entender el entorno atómico para optimizar la eficiencia y selectividad del catalizador. Por ejemplo, el análisis de catalizadores de metales de transición en reacciones de hidrogenación o descomposición puede revelar el estado oxidativo y la estructura del sitio activo bajo condiciones reales de operación (estado in situ). Además, en la ciencia de materiales, estas técnicas permiten caracterizar aleaciones, materiales semiconductores y catalizadores sólidos. Se aplican también en geología para analizar la composición química y estructura local de minerales y arcillas, así como en biología para estudiar metales en centros activos de enzimas y proteínas, determinando el papel funcional de los metales en procesos bioquímicos.
Un ejemplo concreto en química es el uso de XANES para determinar el estado de oxidación de cromo en muestras ambientales, lo que es crítico para evaluar la toxicidad y movilidad del metal en suelos contaminados. Se han empleado espectroscopías EXAFS para examinar la estructura local de aislantes o superconductores a temperaturas extremas, obteniendo correlación entre propiedades macroscópicas y estructuras atómicas. En estudios de catálisis, la espectroscopía permite monitorear en tiempo real cambios estructurales en nanopartículas metálicas durante la reacción, proveyendo información esencial para el diseño racional de nuevos materiales funcionales.
Las técnicas se basan en la ley de Beer-Lambert modificada para la absorción de rayos X en función de la energía. La fórmula general para la absorción en la región EXAFS se describe mediante la siguiente expresión para la función EXAFS chi (chi k):
chi k igual suma sobre j de (N j S0 cuadrado) dividido por k R j cuadrado multiplicado por f j de k multiplicado por sen de (2 k R j más delta j) multiplicado por e elevado a menos 2 sigma j cuadrado k cuadrado más menos 2 R j sobre lambda k,
donde k es el vector de onda del electrón fotoemitido, N j es el número de átomos vecinos en la capa j, R j es la distancia promedio al átomo vecino en esa capa, f j de k es el factor de dispersión del átomo vecino, delta j es el corrimiento de fase total, sigma j cuadrado es el factor de Debye-Waller que refleja la desorden térmico y estático, lambda k es la longitud de atenuación del electrón. Esta fórmula permite modelar y ajustar los espectros obtenidos para obtener parámetros estructurales precisos.
El desarrollo y perfeccionamiento de la espectroscopía de absorción en bordes X ha sido un esfuerzo multidisciplinar que involucra físicos, químicos, ingenieros y especialistas en ciencia de materiales. Entre los pioneros se destaca el trabajo de Pierre E. Johnston y Alfred L. Schmitt, quienes sentaron bases experimentales y teóricas a mediados del siglo XX para entender la interacción de rayos X con la materia y las características de los bordes de absorción. Posteriormente, en los años setenta y ochenta, se realizó un avance significativo gracias a grupos de investigación en laboratorios nacionales como el Stanford Synchrotron Radiation Lightsource (SSRL) en Estados Unidos y el European Synchrotron Radiation Facility (ESRF) en Francia, que permitieron el acceso a fuentes intensas y tunables de rayos X, indispensables para la recogida de datos de alta resolución.
Además, el desarrollo de software avanzado para el análisis de datos EXAFS y XANES, como ATHENA, ARTEMIS y FEFF, facilitó la interpretación cuantitativa de los espectros, integrando métodos computacionales y simulaciones teóricas. Investigadores como Bruce Ravel y Matthew Newville han contribuido de manera sustancial al desarrollo de estos programas y a la difusión del uso de la técnica en diversas áreas del conocimiento. La colaboración entre científicos de diferentes disciplinas ha sido clave para llevar a la espectroscopía de absorción X a su estado actual, permitiendo abordar problemas complejos en química inorgánica, materiales avanzados, medioambiente y biomedicina.
En consecuencia, la espectroscopía de absorción en los bordes XANES y EXAFS se presenta como una herramienta analítica de gran alcance para caracterizar la estructura atómica y electrónica de materiales con una precisión elevada. Su aplicación está en constante crecimiento gracias a los avances en fuentes de luz sincrotrón, detectores y metodologías computacionales, consolidándose como una técnica esencial en investigación química y de materiales en la actualidad.
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